JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS

J ELECTRON TEST · ISSN 0923-8174 · EISSN 1573-0727 · 收录年度 2018–2026 · 共 8 年
分区口径 最新(中科院 2025 + 新锐 2026 + JCR 2026) 2025 年中科院 2023 年中科院 2022 年中科院 2021 年中科院(升级版) 2020 年中科院(升级版) 2019 年中科院(升级版) 2018 年中科院(基础版)

分区结论

口径:中科院分区 · 2025 年 —— 2025 年及以前只有这一套分区表,因此这里只显示对应年度。 想看当前口径请看 最新分区
4 区
大类学科:工程技术
加入对比

投稿信息

投稿入口、版面费、审稿周期等信息来自公开渠道与期刊官网,仅供参考,请以期刊官方发布为准。
版面费 $3290
是否 OA
审稿周期
录用比例
出版商 Springer Science+Business Media
出版国家 / 语言 United States
主题词:VLSI and Analog Circuit Testing; Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis; Radiation Effects in Electronics; Low-power high-performance VLSI design; Physical Unclonable Functions (PUFs) and Hardware Security; VLSI and FPGA Design Techniques; Engineering and Test Systems; Semiconductor materials and devices; Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design; Software Testing and Debugging Techniques; Analog and Mixed-Signal Circuit Design; Embedded Systems Design Techniques; Educational Technology and Assessment; Interconnection Networks and Systems; Advancements in PLL and VCO Technologies; Diverse Scientific and Economic Studies; Human auditory perception and evaluation; Formal Methods in Verification; Electrostatic Discharge in Electronics; Radio Frequency Integrated Circuit Design; Software Reliability and Analysis Research; Cryptographic Implementations and Security; Advanced Memory and Neural Computing; Advancements in Photolithography Techniques; 3D IC and TSV technologies

2025 年 · 小类分区

同一本刊在不同小类下可能分属不同分区,投稿时按你所在的小类看。
小类学科分区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 4 区

分区走势

只统计同一套口径的历史年度,跨口径不比较。
中科院(升级版)
2019
4 区
工程技术
2020
4 区
工程技术
2021
4 区
工程技术
2022
4 区
工程技术
2023
4 区
工程技术
2025
4 区
工程技术
中科院(基础版):2018–2021 年发布的另一套中科院方案, 按 3 年平均 IF 分 13 个大类(升级版按期刊超越指数分 18 个大类)。 两套的分类法与区数都可能不同,不做换算。
2018
4 区
工程技术
3年均IF 0.521
2019
4 区
工程技术
3年均IF 0.609
2020
4 区
工程技术
3年均IF 0.592
2021
4 区
工程技术
3年均IF 0.701

影响因子

2015 年
0.361
2018 版
2016 年
0.647
2019 版
2017 年
0.554
2020 版
2018 年
0.625
2021 版
2019 年
0.596
2021 版
2020 年
0.880
2021 版
2025 年
1.200
2026 版
分区表版本3 年平均 IF总被引频次
2025 年 641
2021 年 0.701 964
2020 年 0.592 828
2019 年 0.609 759
2018 年 0.521 713
怎么读这张表:每个数字上方是 IF 本身所属的年份,下方是它由哪一版分区表公布。 例如「2020 年 / 2021 版」= 2021 版分区表公布的 2020 年度影响因子,不是「2021 年的 IF」。
数据范围:本站影响因子覆盖 2015–20202025 年度; 2021–2024 年缺失 —— 这几年没有可用的数据源,本站不做插值、也不拿旧年份的值顶替。 最早年份由分区表公布,2025 年度为 JCR 年度值。

收录与标记

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综述期刊
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OA Journal Index
其它名称: J ELECTRON TEST(short) ·

2025 年 · 同类可替代期刊

依据小类重合度排序:小类越接近,投稿范围与审稿口味通常也越接近。
期刊ISSN分区备注
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Elektrotechnik und Informationstechnik 0932-383X 4 区 共享 1 个小类 加入对比
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